FAPS2000型全自动探针台设备是芯片生产过程中用于和测试仪器组合成测试系统,对晶圆级芯片的光、电等参数进行测试验证的设备,并对测试结果进行存储、生成MAP图,合格的芯片进行分类、对不合格的芯片进行打点标记。该设备是适合于8英寸和6英寸的晶圆探针测试设备。
基本功能:
n 采用高性能工业控制计算机,Windows7 操作系统,操作易上手,易维护
n 自动图像对准扫描功能,适应大偏转角度,识别失败处理机制;
n 圆形、编辑等多种测试方式
n 同步、离线打点方式
n MAP图动态显示测试全过程,MAP导入,MAP编辑,MAP导出功能
n 测试仪接口:GPIB、RS232、以太网、USB2.0、光隔离TTL**接口
n 高速仪表 TTL **测试仪接口,可连接多种仪表;
n Windows 界面,测试过程动态显示,MAP 图显示、存储;
n 离线打点,延时打点,同步打点功能;
n 自动测试方式有矩阵、圆形方式、MAP 导入等多种自动测试方式
n 跳测功能,暂停校正,坏点重测功能。
n 一键 GO 功能;
n 系统帮助与各种提示信息;
n 软件 4 级权限管理,便于产线管理;
n 测试结果数据Excel格式存储、查询